发明名称 Verfahren zur Schaltkreisüberprüfung
摘要 Ein Verfahren zur Überprüfung eines elektronischen Schaltkreises (12), der auf einer Platine oder Schaltkreiskarte (10) mit einem Peripherieschaltkreis (15) ausgebildet ist, umfasst die Schritte der Bereitstellung eines Anschlusses (27) zur Eingabe und Ausgabe eines elektronischen Signals, des Bereitstellens einer Impedanzerhöhungsvorrichtung (11) zur Erhöhung einer Impedanz einer elektrischen Verbindung zwischen dem elektronischen Schaltkreis (12) und dem Peripherieschaltkreis (15) und des Bereitstellens einer Überprüfungsvorrichtung (24) zur Überprüfung des elektronischen Schaltkreises (12). Die Impedanz des elektronischen Schaltkreises (12) wird erhöht, um Einflüsse des Peripherieschaltkreises (15) vor und während der Überprüfung des elektronischen Schaltkreises (12) zu verhindern, und die Erhöhung der Impedanz wird nach der Überprüfung aufgehoben.
申请公布号 DE102006017260(A1) 申请公布日期 2006.10.19
申请号 DE200610017260 申请日期 2006.04.12
申请人 DENSO CORP. 发明人 NISHIMURA, TOSHIRO;KABUNE, HIDEKI
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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