| 发明名称 | 半导体激光器热弛豫时间的测试装置 | ||
| 摘要 | 一种半导体激光器热弛豫时间的测试装置，该装置的构成是：一脉冲电源，该脉冲电源的输出端接半导体激光器，沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱仪，光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝，光电倍增管的输出端接Boxcar积分器的输入端，所述的脉冲电源的同步输出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端，计算机输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本实用新型的优点是：不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关系；装置造价低，容易搭建，方法简单、稳定性好。 | ||
| 申请公布号 | CN2828834Y | 申请公布日期 | 2006.10.18 |
| 申请号 | CN200520042281.3 | 申请日期 | 2005.06.08 |
| 申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 陈晨;辛国锋;方祖捷 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
| 主权项 | 1 一种半导体激光器热弛豫时间的测试装置，其特征在于该装置的构成是：一脉冲电源(2)，该脉冲电源(2)的输出端接半导体激光器(1)，沿该半导体激光器(1)的激光前进方向依次是准直系统(4)和光谱仪(5)，光电倍增管(6)位于所述的光谱仪(5)的输出狭缝，光电倍增管(6)的输出端接Boxcar积分器(7)的输入端，所述的脉冲电源(2)的同步输出端经过延时电路(3)连接Boxcar积分器(7)的触发输入端，计算机(8)输入端数据采集卡连接Boxcar积分器(7)输出端。 | ||
| 地址 | 201800上海市800－211邮政信箱 | ||