Assembly for LSI test,申请号EP20030018260-传众专利搜索

发明名称	Assembly for LSI test
摘要
申请公布号	EP1447672(B1)	申请公布日期	2006.10.18
申请号	EP20030018260	申请日期	2003.08.11
申请人	MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.	发明人	ITOH, WATARU;KANEMITSU, TOMOHIKO;YAMASHITA, TAKERU;WATANABE, AKIHIKO
分类号	G01R31/28;G01R31/319;G01R31/3193	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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