发明名称 等离子体反应装置
摘要 本发明涉及一种应用于半导体晶圆制造工艺中的等离子体反应装置。本发明等离子体反应装置包括安装在腔室壁上面的绝缘窗体,其中所述绝缘窗体包括具有进气口的上盖和基盖,其中基盖内设有腔室,腔室底壁上均匀分布有若干孔。本发明的等离子体反应装置的优点和积极效果在于:由于绝缘窗体由上盖和基盖组成,且基盖内设有腔室,腔室底壁上均匀分布有若干孔。所以,由进气口进入的反应气体在基盖的腔室内受到底壁的缓冲,在整个腔室内趋于均匀,再由底壁的若干孔进入反应室,在反应室内的分布也趋于均匀;而且基盖腔室底壁的面积比较大,对反应室来说相当于有若干个进气口同时进气,所以,反应室内气体更加均匀。
申请公布号 CN1848372A 申请公布日期 2006.10.18
申请号 CN200510126346.7 申请日期 2005.12.07
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 管长乐
分类号 H01L21/00(2006.01);H01L21/205(2006.01);H01L21/3065(2006.01);H01L21/67(2006.01);C23C16/44(2006.01);C23C14/56(2006.01);C23F4/00(2006.01);H01J37/32(2006.01);H05H1/00(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人 王常风
主权项 1.等离子体反应装置,包括安装在腔室壁(3)上面的绝缘窗体(2),其特征在于所述绝缘窗体(2)包括具有进气口(4)的上盖(21)和基盖(22),其中基盖(22)内设有腔室,腔室底壁上均匀分布有若干中央孔(13)。
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