发明名称 |
由多重沉积和氧化步骤生成间隙层的磁阻传感器结构的生成方法 |
摘要 |
磁阻传感器结构的生成包括:提供一个基底结构,在基底结构之上沉积一个磁钉住结构,以及在磁钉住结构之上沉积一个氧化铜间隙层。沉积氧化铜间隙层的步骤包括沉积第一铜子层,氧化第一铜子层,沉积第二铜子层以及氧化第二铜子层。如果需要也可使用更多次的沉积和氧化步骤。感应结构沉积在氧化铜间隙层之上。 |
申请公布号 |
CN1280788C |
申请公布日期 |
2006.10.18 |
申请号 |
CN200310116309.9 |
申请日期 |
2003.11.19 |
申请人 |
日立环球储存科技荷兰有限公司 |
发明人 |
穆斯塔法·皮那巴塞 |
分类号 |
G11B5/39(2006.01) |
主分类号 |
G11B5/39(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
李勇 |
主权项 |
1.一种用于生产磁阻传感器结构的方法,包括的步骤有:提供基底结构;在基底结构上沉积一个磁钉住结构;在磁钉住结构上沉积一个金属氧化间隙层,步骤有沉积第一金属子层,氧化第一金属子层,沉积第二金属子层,以及氧化第二金属子层,在金属氧化间隙层上沉积感应结构。 |
地址 |
荷兰阿姆斯特丹 |