| 发明名称 | 介质速度的检测 | ||
| 摘要 | 使用电磁辐射来控制介质(4)对电磁辐射的曝光。介质(4)被旋转(38)。检测从介质(4)的边缘(24，26)辐射的电磁辐射的频率。应用检测到的频率控制介质(4)对电磁辐射的曝光。 | ||
| 申请公布号 | CN1849658A | 申请公布日期 | 2006.10.18 |
| 申请号 | CN200480026272.3 | 申请日期 | 2004.08.26 |
| 申请人 | 惠普开发有限公司 | 发明人 | D·M·汉克斯;A·范布洛克林 |
| 分类号 | G11B19/28(2006.01) | 主分类号 | G11B19/28(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 程天正;魏军 |
| 主权项 | 1.一种应用电磁辐射来控制介质(4)对电磁辐射的曝光的方法，该方法包括：旋转(38)介质(4)；检测(42)从介质(4)的边缘(24，26)辐射的电磁辐射的频率；以及利用检测到的频率控制(44)介质(4)对电磁辐射的曝光。 | ||
| 地址 | 美国得克萨斯州 | ||