发明名称 测试装置以及写入控制电路
摘要 本发明提供一种写入控制电路,为一种将从多个主计算机所接收的多个命令数据写入多个寄存器部的写入控制电路。该写入控制电路包括多个要求信号保存部、主选择部与写入部。要求信号保存部与上述这些主计算机对应设置,并保存来自对应的主计算机的写入要求信号。主选择部依次选择多个要求信号保存部,且接收并输出所选择的要求信号保存部保存的保存数据。写入部接收主选择部输出的保存数据、应写入寄存器部的命令数据、及用于寄存器部指定数据,其中寄存器部指定数据是用来指定一个用来指定写入命令数据的寄存器部。当写入部所接收的保存数据为写入要求信号时,向由寄存器部指定数据所指定的寄存器部写入命令数据。
申请公布号 CN1849519A 申请公布日期 2006.10.18
申请号 CN200480026143.4 申请日期 2004.09.10
申请人 爱德万测试株式会社 发明人 佐藤浩
分类号 G01R31/28(2006.01);G06F1/04(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人 胡光星
主权项 1.一种写入控制电路,为一种将从多个主计算机所接收的多个命令数据写入多个寄存器部的写入控制电路,其特征是包括:多个要求信号保存部,与上述这些主计算机对应设置,并保存来自对应的上述这些主计算机的写入要求信号;主选择部,依次选择上述这些要求信号保存部,且接收并输出所选择的上述这些要求信号保存部保存的保存数据;以及写入部,接收该主选择部输出的上述这些保存数据、应写入上述这些寄存器部的上述这些命令数据、及用于指定应写入上述这些命令数据的上述这些寄存器部的寄存器部指定数据,当所接收的上述这些保存数据为上述这些写入要求信号时,向由上述这些寄存器部指定数据所指定的上述这些寄存器部写入上述这些命令数据。
地址 日本东京都