发明名称 从时域反射仪量测以评估通道频宽的方法
摘要 一测试通道之频宽系由具有通道终止在短路或开路之单埠时域反射仪(TDR)之量测值所决定。频宽系由下面步骤予以评估:(1)完成一终止在短路或开路的通道之TDR量测;(2)从TDR量测决定反射之最大斜率;(2)计算一内插上升或下降时间,例如取10%与90%点间之80%的应用电压,然后将该应用电压除以所决定之最大斜率;(3)将整体内插上升时间除以二的平方根,以计算通过该通道的TDR信号两次;(4)自量测设备移除上升时间成分;以及(5)使用一将频宽关系至上升时间之公式,完成通道频宽之计算,该公式系例如:频宽=0.35/上升时间。
申请公布号 TW200636256 申请公布日期 2006.10.16
申请号 TW095103521 申请日期 2006.01.27
申请人 锋法特股份有限公司 发明人 曾至强;查理斯 米勒
分类号 G01R23/00;G01R1/04 主分类号 G01R23/00
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国