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发明名称 APPARATUS FOR TESTING MEMORY MODULE
摘要
申请公布号 KR20060107092(A) 申请公布日期 2006.10.13
申请号 KR20050029093 申请日期 2005.04.07
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, JUNG KUK;SEO, SEUNG JIN;HAN, YOU KEUN;SHIN, SEUNG MAN;AHN, YOUNG MAN
分类号 G01R31/28;G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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