首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF A SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 KR20060106591(A) 申请公布日期 2006.10.12
申请号 KR20050084516 申请日期 2005.09.12
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 TASHIRO KAZUHIRO;ITOU YASUYUKI;MARUYAMA SHIGEYUKI;ARISAKA YOSHIKAZU
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com