发明名称 压力测试装置
摘要 一种压力测试装置,通过一压力测试头测试一电子零件承受用于卡固散热组件的扣具施加的压力,将感测到的压力信息输出,该压力测试装置包括测试台面,用于设置该压力测试头,且该测试台面上设有至少一沟槽;以及一对相对向的滑动件,该对滑动件各设有可收容在该沟槽的定位块,使该对滑动件自由地滑动在该测试台面上,且该压力测试头是设在该对滑动件可滑动的范围之间,可根据该扣具尺寸调整两个相对向滑动件的距离夹固该扣具,并使该扣具上卡固的散热组件与该压力测试头接触;本实用新型能仿真所有CPU承受用于卡固散热组件的扣具施加的压力,且可满足测试人员需求对各种类别的CPU、散热组件及扣具进行压力测试。
申请公布号 CN2826384Y 申请公布日期 2006.10.11
申请号 CN200520127904.7 申请日期 2005.09.26
申请人 英业达股份有限公司 发明人 陈文华
分类号 G01L5/24(2006.01);G01L5/00(2006.01);G01L1/00(2006.01) 主分类号 G01L5/24(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 程伟
主权项 1.一种压力测试装置,通过一压力测试头测试一电子零件承受用于卡固散热组件的扣具所施加的压力,并将感测到的压力信息输出,其特征在于,该压力测试装置包括:测试台面,用于设置该压力测试头,且该测试台面上设有至少一沟槽;以及一对相对向的滑动件,该对滑动件各设有可收容在该沟槽的定位块,使该对滑动件自由地滑动在该测试台面上,且该压力测试头是设在该对滑动件可滑动的范围之间,可根据该扣具尺寸调整两个相对向滑动件的距离夹固该扣具,并使该扣具上卡固的散热组件与该压力测试头接触。
地址 台湾省台北市