| 发明名称 | 晶片几何参数检测仪器(台式手动) | ||
| 摘要 | 本外观设计产品由件1机柜A和件2测试平台B组成。测试平台B可放置在机柜A上，也可放置在适当的地方。 | ||
| 申请公布号 | CN3568625D | 申请公布日期 | 2006.10.11 |
| 申请号 | CN200530045918.X | 申请日期 | 2005.12.06 |
| 申请人 | 上海星纳电子科技有限公司 | 发明人 | 朱洪伟 |
| 分类号 | 10-05 | 主分类号 | 10-05 |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 左一平 |
| 主权项 | |||
| 地址 | 201108上海市虹梅南路3609号4号楼二楼 | ||