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发明名称 手动晶片几何参数检测仪器(落地式)
摘要
申请公布号 CN3568626D 申请公布日期 2006.10.11
申请号 CN200530045919.4 申请日期 2005.12.06
申请人 上海星纳电子科技有限公司 发明人 朱洪伟
分类号 10-05 主分类号 10-05
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 左一平
主权项
地址 201108上海市虹梅南路3609号4号楼二楼
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