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发明名称 TEST ARCHITECTURE AND METHOD
摘要
申请公布号 EP1709454(A1) 申请公布日期 2006.10.11
申请号 EP20050702665 申请日期 2005.01.13
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 MARINISSEN, ERIK J.;WAAYERS, THOMAS F.
分类号 G01R31/317;G01R31/3185 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
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