发明名称 | 校准比较器电路 | ||
摘要 | 一种用于对装置测试的测试设备,包括:定时发生器,用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号;多个定时延迟部件,用于延迟所述定时信号;多个驱动器,用于施加所述测试信号;采样器,用于对所述测试信号进行采样,以输出采样电压;比较器,用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果;确定部件,用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致;和定时校准部件,用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间,从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。 | ||
申请公布号 | CN1846141A | 申请公布日期 | 2006.10.11 |
申请号 | CN200480025335.3 | 申请日期 | 2004.09.08 |
申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 梅村芳春;冈安俊幸;淡路利明;山川雅裕 |
分类号 | G01R31/316(2006.01) | 主分类号 | G01R31/316(2006.01) |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 李芳华;邸万奎 |
主权项 | 1.一种比较器电路,用于比较测量信号和参考电压并输出比较结果,所述比较器电路包括:采样器,用于在预定定时处对所述测量信号进行采样,并输出所述测量信号的采样电压;和比较器,用于比较所述采样电压和所述参考电压,并输出指明所述采样电压是否高于所述参考电压的所述比较结果。 | ||
地址 | 日本东京都 |