发明名称 校准比较器电路
摘要 一种用于对装置测试的测试设备,包括:定时发生器,用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号;多个定时延迟部件,用于延迟所述定时信号;多个驱动器,用于施加所述测试信号;采样器,用于对所述测试信号进行采样,以输出采样电压;比较器,用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果;确定部件,用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致;和定时校准部件,用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间,从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。
申请公布号 CN1846141A 申请公布日期 2006.10.11
申请号 CN200480025335.3 申请日期 2004.09.08
申请人 株式会社爱德万测试 发明人 梅村芳春;冈安俊幸;淡路利明;山川雅裕
分类号 G01R31/316(2006.01) 主分类号 G01R31/316(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 李芳华;邸万奎
主权项 1.一种比较器电路,用于比较测量信号和参考电压并输出比较结果,所述比较器电路包括:采样器,用于在预定定时处对所述测量信号进行采样,并输出所述测量信号的采样电压;和比较器,用于比较所述采样电压和所述参考电压,并输出指明所述采样电压是否高于所述参考电压的所述比较结果。
地址 日本东京都