发明名称 | 基于发光二极管的测量系统 | ||
摘要 | 提供了各种基于发光二极管(LED)的测量系统和方法。一种系统包括沿着试样(10)的流动路径(20)排列的一个或多个LED(14,16,18)的阵列。该阵列配置成在试样沿着流动路径移动时照射试样。该系统也包括配置成探测由阵列照射试样产生的光的一个或多个探测器(24)。一种方法包括在沿着微球体的流动路径的不同位置照射微球体。该方法也包括探测由照射产生的光以产生对应于在不同位置的照射的分立的输出信号。该方法还包括组合分立的输出信号以产生具有比分立的输出信号的信噪比更大的信噪比的单个输出信号。 | ||
申请公布号 | CN1846126A | 申请公布日期 | 2006.10.11 |
申请号 | CN200480022468.5 | 申请日期 | 2004.08.03 |
申请人 | 卢米尼克斯股份有限公司 | 发明人 | W·D·罗斯 |
分类号 | G01N15/14(2006.01) | 主分类号 | G01N15/14(2006.01) |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 李玲 |
主权项 | 1、一种测量系统,包括:沿着试样的流动路径排列的发光二极管的阵列,其中所述阵列配置成在试样沿着流动路径移动时照射试样;以及配置成探测由所述阵列照射试样产生的光的一个或多个探测器。 | ||
地址 | 美国得克萨斯州 |