发明名称 |
半导体存储卡和数据读取装置 |
摘要 |
一种半导体存储器卡包括控制IC(302),闪存(303),和ROM(304)。ROM(304)保存如对每个半导体存储器卡是唯一的介质ID的信息。闪存(303)包括一个验证存储器(332)和一个非验证存储器(331)。验证存储器只能由已被确认验证的外部设备访问。非验证存储器331能够由被确认或未被确认的外部设备访问。控制IC(302)包括控制单元(325)和(326),验证单元(321)等。控制单元(325)和(326)分别控制对验证存储器(332)和非验证存储器(331)的访问。验证单元(321)与外部设备执行相互验证。 |
申请公布号 |
CN1279543C |
申请公布日期 |
2006.10.11 |
申请号 |
CN00801208.3 |
申请日期 |
2000.04.10 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
广田照人;馆林诚;汤川泰平;南贤尚;小雅之 |
分类号 |
G11C16/22(2006.01);G06F12/14(2006.01) |
主分类号 |
G11C16/22(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
吴立明;王忠忠 |
主权项 |
1.一种可以在电子设备中使用和从电子设备中卸下的半导体存储卡,包括:可再写非易失性存储器;和控制电路,控制电子设备访问可再写非易失性存储器内验证区域和非验证区域,其中控制电路包括:非验证区域访问控制单元,控制电子设备访问非验证区域;验证单元,执行验证处理去检查电子设备是否合适,当电子设备合适时确认验证电子设备;和验证区域访问控制单元,只有当验证单元确认验证了电子设备时才允许电子设备访问验证区域,其中借助将可再写非易失性存储器预定大小的连续区域分成两块,生成了验证区域和非验证区域,和半导体存储卡进一步包括:用于保存关于标示验证区域与非验证区域之间边界的地址的信息的装置;和区域大小改变电路,改变验证区域和非验证区域的大小,其中只有当验证单元确认验证了电子设备时,区域大小改变电路借助改变边界标示地址来改变验证区域和非验证区域的大小,和验证区域访问控制单元和非验证区域访问控制单元通过引用有关边界标示地址的信息分别控制电子设备访问验证区域和非验证区域。 |
地址 |
日本大阪府门真市 |