FULL STRESS OPEN BIT LINE MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR,申请号KR20050012262-传众专利搜索

发明名称	FULL STRESS OPEN BIT LINE MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR
摘要
申请公布号	KR100632369(B1)	申请公布日期	2006.10.11
申请号	KR20050012262	申请日期	2005.02.15
申请人		发明人
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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