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发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WITH 6F2 CELL-STRUCTURE FOR BURN-IN TEST AND THEREFOR METHOD
摘要
申请公布号 KR20060104894(A) 申请公布日期 2006.10.09
申请号 KR20050027392 申请日期 2005.03.31
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 KYUNG, KI MYUNG
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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