PROBE DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTOR,申请号KR20050026480-传众专利搜索

发明名称	PROBE DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTOR
摘要
申请公布号	KR20060104366(A)	申请公布日期	2006.10.09
申请号	KR20050026480	申请日期	2005.03.30
申请人	SEJI CO., LTD.	发明人	RYU, JAE EUN;YOU, SAE RON
分类号	H01L21/66	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
地址