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经营范围
发明名称
OVERLAY ACCURACY MEASUREMENT MARK OF SEMICONDUCTORDEVICE
摘要
申请公布号
KR20060104830(A)
申请公布日期
2006.10.09
申请号
KR20050027290
申请日期
2005.03.31
申请人
HYNIX SEMICONDUCTOR INC.
发明人
EOM, JAE DOO
分类号
H01L21/027
主分类号
H01L21/027
代理机构
代理人
主权项
地址
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