发明名称 |
金属图形及其制造方法 |
摘要 |
本发明的金属图形是在衬底表面上通过蚀刻形成的金属图形(13’),在金属图形(13’)的金属膜表面形成含有氟代烷基链(CF<SUB>3</SUB>(CF<SUB>2</SUB>)<SUB>n</SUB>-:n为自然数)的被吸附的单分子膜,在构成上述单分子膜的分子间渗入具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子,从而形成遮蔽膜(18)。该金属图形是通过如下的步骤得到:在金属膜表面形成含有氟代烷基链(CF<SUB>3</SUB>(CF<SUB>2</SUB>)<SUB>n</SUB>-:n为自然数)的单分子膜,在上述单分子膜的表面涂布溶解了具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子的溶液,在构成上述单分子膜的分子间渗入具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子,从而形成遮蔽膜,使蚀刻液与上述金属膜表面接触,对没有上述遮蔽膜的金属区域进行蚀刻。 |
申请公布号 |
CN1843067A |
申请公布日期 |
2006.10.04 |
申请号 |
CN200580000825.2 |
申请日期 |
2005.01.13 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
中川徹 |
分类号 |
H05K3/06(2006.01);B32B9/00(2006.01);B32B15/04(2006.01) |
主分类号 |
H05K3/06(2006.01) |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
陈建全 |
主权项 |
1.一种在衬底表面上通过蚀刻形成的金属图形,其特征在于,在所述金属图形的金属膜表面形成含有氟代烷基链(CF3(CF2)n-:n为自然数)的单分子膜,使构成所述单分子膜的分子间渗入具有巯基(-SH)或二硫基(-SS-)的分子,从而形成遮蔽膜。 |
地址 |
日本大阪府 |