发明名称 |
半导体集成电路的复原装置及其复原方法 |
摘要 |
在成为电源切断对象的电路块(110)中,在两系统的电源线(141、143)上,在电源端子(140、142)的附近分别配置电压检测电路(130、134),在距离所述电源端子(140、142)远的规定位置分别配置电压检测电路(132、136)。这些电压检测电路只由MOS晶体管构成。当从电源供给电路150再投入电源时,在所述全部各电压检测电路中,检测到电源电压达到设定电位后,复原信号发生电路(160)解除向电路块(110)的复原信号的输入。所以,当电源电压成为设定电压后,就解除了复原状态,因此可以正常地进行半导体电路的初始化,由此,提供可以适当地发生通电复原信号的半导体集成电路。 |
申请公布号 |
CN1278488C |
申请公布日期 |
2006.10.04 |
申请号 |
CN02819478.0 |
申请日期 |
2002.11.20 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
冈本稔;丸井信一;冈林和宏 |
分类号 |
H03K17/22(2006.01);G06F1/24(2006.01) |
主分类号 |
H03K17/22(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汪惠民 |
主权项 |
1.一种半导体集成电路的复原装置,其特征在于,具备:持有至少一个系统的电源线,从该电源线向内部具有的多个半导体元件供给电源的电路块;在所述电源线的规定位置上连接所述电源线,并且当该电源线的所述规定位置的电位为设定电位时,输出规定电位的电压检测信号的多个电压检测机构;依照从外部输入的电源控制信号,向所述电路块供给或者切断电源的第一电源供给机构;输入所述多个电压检测机构的电压检测信号,当这些电压检测信号的全部不是所述规定电位时,向所述电路块输出复原信号,另一方面,当所述电压检测信号的全部都成为所述规定电位后,解除向所述电路块输出的所述复原信号的复原信号发生机构;向所述复原信号发生机构供给电源的第二电源供给机构。 |
地址 |
日本大阪府 |