发明名称 半导体集成电路的复原装置及其复原方法
摘要 在成为电源切断对象的电路块(110)中,在两系统的电源线(141、143)上,在电源端子(140、142)的附近分别配置电压检测电路(130、134),在距离所述电源端子(140、142)远的规定位置分别配置电压检测电路(132、136)。这些电压检测电路只由MOS晶体管构成。当从电源供给电路150再投入电源时,在所述全部各电压检测电路中,检测到电源电压达到设定电位后,复原信号发生电路(160)解除向电路块(110)的复原信号的输入。所以,当电源电压成为设定电压后,就解除了复原状态,因此可以正常地进行半导体电路的初始化,由此,提供可以适当地发生通电复原信号的半导体集成电路。
申请公布号 CN1278488C 申请公布日期 2006.10.04
申请号 CN02819478.0 申请日期 2002.11.20
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 冈本稔;丸井信一;冈林和宏
分类号 H03K17/22(2006.01);G06F1/24(2006.01) 主分类号 H03K17/22(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1.一种半导体集成电路的复原装置,其特征在于,具备:持有至少一个系统的电源线,从该电源线向内部具有的多个半导体元件供给电源的电路块;在所述电源线的规定位置上连接所述电源线,并且当该电源线的所述规定位置的电位为设定电位时,输出规定电位的电压检测信号的多个电压检测机构;依照从外部输入的电源控制信号,向所述电路块供给或者切断电源的第一电源供给机构;输入所述多个电压检测机构的电压检测信号,当这些电压检测信号的全部不是所述规定电位时,向所述电路块输出复原信号,另一方面,当所述电压检测信号的全部都成为所述规定电位后,解除向所述电路块输出的所述复原信号的复原信号发生机构;向所述复原信号发生机构供给电源的第二电源供给机构。
地址 日本大阪府