发明名称 métodos e sistema para a inspeção de componentes fabricados
摘要 "MéTODO E SISTEMAS PARA A INSPEçãO DE COMPONENTES FABRICADOS". São fornecidos métodos e dispositivos para a inspeção de um componente (29). O método compreende receber (408) uma pluralidade de dados de pontos os quais definem o formato do componente, ajustar (410) os dados de pontos recebidos a uma curva a qual define um formato modelo predeterminado, e comparar (412) os dados de pontos recebidos com a curva que define o formato modelo predeterminado para determinar o raio de abertura do componente.
申请公布号 BRPI0600265(A) 申请公布日期 2006.10.03
申请号 BR2006PI00265 申请日期 2006.01.18
申请人 GENERAL ELECTRIC COMPANY 发明人 DOUGLAS EDWARD INGRAM;FRANCIS HOWARD LITTLE;MELVIN HOWARD WILKINS
分类号 (IPC1-7):G01B21/20;G01B5/20 主分类号 (IPC1-7):G01B21/20
代理机构 代理人
主权项
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