发明名称 |
métodos e sistema para a inspeção de componentes fabricados |
摘要 |
"MéTODO E SISTEMAS PARA A INSPEçãO DE COMPONENTES FABRICADOS". São fornecidos métodos e dispositivos para a inspeção de um componente (29). O método compreende receber (408) uma pluralidade de dados de pontos os quais definem o formato do componente, ajustar (410) os dados de pontos recebidos a uma curva a qual define um formato modelo predeterminado, e comparar (412) os dados de pontos recebidos com a curva que define o formato modelo predeterminado para determinar o raio de abertura do componente.
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申请公布号 |
BRPI0600265(A) |
申请公布日期 |
2006.10.03 |
申请号 |
BR2006PI00265 |
申请日期 |
2006.01.18 |
申请人 |
GENERAL ELECTRIC COMPANY |
发明人 |
DOUGLAS EDWARD INGRAM;FRANCIS HOWARD LITTLE;MELVIN HOWARD WILKINS |
分类号 |
(IPC1-7):G01B21/20;G01B5/20 |
主分类号 |
(IPC1-7):G01B21/20 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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