发明名称 Geïntegreerde optische metrologie en lithografische proceslijn voor dynamische kritieke dimensieregeling.
摘要
申请公布号 NL2000045(A1) 申请公布日期 2006.10.03
申请号 NL20062000045 申请日期 2006.03.31
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 CHIH-MING KE;SHINN-SHENG YU;YU-HSI WANG;TSAI-SHENG GAU;JACKY HUANG
分类号 H01L21/027;(IPC1-7):H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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