制造缺陷分析系统及其检测方法

摘要

一种具侦测功能之制造缺陷分析系统(Manufacture Defect Analyzer, MDA)及其检测方法。其侦测功能之制造缺显分析系统用以检测一待测电路板，待测电路板包括一插槽，插槽具有一上盖。制造缺陷分析系统包括一平台、一侦测装置以及一分析装置。平台用以承载待测电路板。侦测装置对应于插槽而设置于平台上，并用以侦测上盖是否开启，若上盖开启则输出一开启信号。分析装置接收开启信号后，与插槽电性连接，以检测插槽有无制造缺陷。