发明名称 光学取像与测试的系统
摘要 一种整合光学取像与测试的系统具有一光学取像模组、一机电模组与一测试模组。于单一机台上,机电模组连接光学取像模组,其用以提供光学取像模组的光学元件给一晶片封装元件、承载晶片封装元件及定位光学元件与晶片封装元件。当晶片封装元件组装了光学元件后可于同一机台上利用测试模组对该晶片封装元件进行程式码烧录与测试晶片封装元件与光学元件。如此的机台可因应整合影像感测、记忆体模组与多晶片结合的产品的组装与测试。
申请公布号 TW200634659 申请公布日期 2006.10.01
申请号 TW094108518 申请日期 2005.03.18
申请人 联杰光电股份有限公司 发明人 郭澎嘉;倪靖琮
分类号 G06K9/62 主分类号 G06K9/62
代理机构 代理人 陈达仁;谢德铭
主权项
地址 台北县新店市宝中路94号10楼