发明名称 测试方法与焊球移除方法
摘要 一种测试方法,其适用于一封装基板,且封装基板上具有多个焊球。此测试方法包括下列步骤:首先,提供一刀具。接着,使刀具沿封装基板之表面移动,以藉由刀具依序将焊球由封装基板上刮除。之后,对封装基板进行可靠度分析。此测试方法在移除焊球时,可避免球垫自封装基板脱落。此外,吾人并提出一种焊球移除方法。
申请公布号 TW200634965 申请公布日期 2006.10.01
申请号 TW094108744 申请日期 2005.03.22
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 龚恒玉
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号