发明名称 液晶面板之检测装置
摘要 本发明系有关于一种液晶面板之检测装置,包括有一第一转盘、一转轴、和一厚度检测单元,此第一转盘之一表面包括有至少一固定机构,用以固定至少一液晶面板于此第一转盘之表面;而转轴则和第一转盘连接,用以转动第一转盘使第一转盘产生一离心力;厚度检测单元则用以检测第一转盘上的液晶面板的间隙。藉此,提供液晶面板数倍于重力值之离心力,以放大面板发生重力不均时所造成之面板间隙,利于不良品之检测,加速在生产面板时的检测时间。
申请公布号 TWI263083 申请公布日期 2006.10.01
申请号 TW094107286 申请日期 2005.03.10
申请人 广辉电子股份有限公司 发明人 黄泰棋;廖智良
分类号 G02F1/133 主分类号 G02F1/133
代理机构 代理人 吴冠赐 台北市松山区敦化北路102号9楼;苏建太 台北市松山区敦化北路102号9楼;林志鸿 台北市松山区敦化北路102号9楼
主权项 1.一种液晶面板之检测装置,包括:一第一转盘,该第一转盘之一表面包括有至少一固定机构,用以固定至少一液晶面板于该第一转盘之表面;一转轴,系与该第一转盘连接以转动该第一转盘;以及一间隙检测单元,用以检测该液晶面板之间隙。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该固定机构为一真空吸着孔洞。3.申请专利范围第1项所述之装置,其中该固定机构为一卡榫。4.如申请专利范围第1项所述之装置,更包括一第二转盘,用以夹置该液晶面板于该第一转盘和第二转盘之间。5.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该第一转盘之表面更包括有一加热机构,用以加热该液晶面板。6.如申请专利范围第5项所述之装置,其中该加热机构为一加热板。7.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该加热板之加热温度介于40℃至120℃之间。8.如申请专利范围第4项所述之装置,其中该第二转盘之表面更包括有一加热机构,用以加热该液晶面板。9.如申请专利范围第8项所述之装置,其中该加热机构为一加热板。10.如申请专利范围第9项所述之装置,其中该加热板之加热温度介于40℃至120℃之间。11.一种液晶面板之检测方法,包括以下步骤:(A)提供一液晶面板检测装置,该装置包括有一第一转盘、一转轴、和一间隙检测单元,其中该第一转盘之一表面包括有至少一固定机构,该转轴与该第一转盘连接;(B)以该固定机构固定一液晶面板于该第一转盘;(C)转动该转轴以带动该第一转盘以带动该液晶面板;(D)以该间隙检测单元检测该液晶面板之面板间隙。12.申请专利范围第11项所述之方法,步骤(A)该固定机构为一卡榫。13.如申请专利范围第11项所述之方法,步骤(A)更包括一第二转盘,用以夹置该液晶面板于该第一转盘和第二转盘之间。14.如申请专利范围第11项所述之方法,步骤(A)该第一转盘之表面更包括有一加热机构,用以加热该液晶面板。15.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该加热机构为一加热板。16.如申请专利范围第15项所述之方法,其中该加热板之加热温度介于40℃至120℃之间。17.如申请专利范围第13项所述之方法,其中该第二转盘之表面更包括有一加热机构,用以加热该液晶面板。18.如申请专利范围第17项所述之方法,其中该加热机构为一加热板。19.如申请专利范围第18项所述之方法,其中该加热板之加热温度介于40℃至120℃之间。图式简单说明:图1a系本发明一实施例之示意图。图1b系本发明一实施例之上视图。图2a系正常液晶面板之示意图。图2b系重力不均(gravity mura)液晶面板之示意图。图3系本发明另一实施例之示意图。图4系本发明另一实施例之示意图。图5系重力不均液晶面板之示意图。
地址 桃园县龟山乡华亚二路189号