发明名称 于知互补金属氧化半导体制程中制造电荷耦合元件
摘要 一种于知互补金属氧化物半导体(CMOS)制程中形成电荷耦合元件(CCD)之技术。在土生土长的矽掺杂基板上形成一些单层复晶矽闸极,其间具有间隙。光罩被使用来选择性地掺杂该等闸极,同时防止在该等间隙中掺杂矽。同样地,光罩可被使用来选择性地对该等闸极进行金属矽化制程,同时防止在该等间隙中形成矽化物。知源极–汲极制程系对该电荷耦荷元件产生输入/输出扩散。
申请公布号 TW200634988 申请公布日期 2006.10.01
申请号 TW095104845 申请日期 2006.02.14
申请人 肯奈特公司 发明人 吉哈德 索尔纳;劳伦斯J 库须能;麦可P 安东尼;爱德华 寇勒;卫斯理 格伦特
分类号 H01L21/8238;H01L27/14 主分类号 H01L21/8238
代理机构 代理人 桂齐恒;阎启泰
主权项
地址 美国