| 发明名称 |
Verfahren zum Kalibrieren einer Testvorrichtung zum parallelen Testen einer Mehrzahl von elektronischen Bauteilen |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10121291(B4) |
申请公布日期 |
2006.09.28 |
| 申请号 |
DE20011021291 |
申请日期 |
2001.04.27 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
MAYR, ROMAN;SCHELLINGER, ANDREAS |
| 分类号 |
G01R35/00;G01R31/28;G01R31/319 |
主分类号 |
G01R35/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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