发明名称 动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置
摘要 一种动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置,该存储器含有至少一缺陷存储区;在一实施例中,一存储区占用对照表包含复数个栏位,每一个栏位对应该存储器的一个存储区,在该存储器的初始测试程序中,将缺陷存储区所对应的占用对照表的栏位加以标示,使其被认为已经被占用,因而该缺陷存储区后续不再被使用;在另一实施例中,从一备用暂存器仓库选取假代存储区,每一个假代存储区对应一个缺陷存储器,后续对缺陷存储区的存取被重新指引至其对应的假代存储区。
申请公布号 CN1838329A 申请公布日期 2006.09.27
申请号 CN200610074997.0 申请日期 2002.01.23
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 陈韵琪
分类号 G11C29/44(2006.01);G06F11/26(2006.01) 主分类号 G11C29/44(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 任默闻
主权项 1.一种动态地隐藏存储器缺陷的装置,其特征是:该存储器含有复数个存储区,该装置包括:一备用暂存器仓库;及一错误存储区记录/控制装置,以记录缺陷存储区的地址,并从该备用暂存器仓库选取一假代存储区对应该缺陷存储区,对于该缺陷存储区的存取将被重新导引至该假代存储区。
地址 中国台湾新竹科学工业园区