发明名称 |
动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置 |
摘要 |
一种动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置,该存储器含有至少一缺陷存储区;在一实施例中,一存储区占用对照表包含复数个栏位,每一个栏位对应该存储器的一个存储区,在该存储器的初始测试程序中,将缺陷存储区所对应的占用对照表的栏位加以标示,使其被认为已经被占用,因而该缺陷存储区后续不再被使用;在另一实施例中,从一备用暂存器仓库选取假代存储区,每一个假代存储区对应一个缺陷存储器,后续对缺陷存储区的存取被重新指引至其对应的假代存储区。 |
申请公布号 |
CN1838329A |
申请公布日期 |
2006.09.27 |
申请号 |
CN200610074997.0 |
申请日期 |
2002.01.23 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
陈韵琪 |
分类号 |
G11C29/44(2006.01);G06F11/26(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/44(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
任默闻 |
主权项 |
1.一种动态地隐藏存储器缺陷的装置,其特征是:该存储器含有复数个存储区,该装置包括:一备用暂存器仓库;及一错误存储区记录/控制装置,以记录缺陷存储区的地址,并从该备用暂存器仓库选取一假代存储区对应该缺陷存储区,对于该缺陷存储区的存取将被重新导引至该假代存储区。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |