发明名称 DEVICE AND METHOD FOR THE OPTICAL MEASUREMENT OF AN OPTICAL SYSTEM, MEASUREMENT STRUCTURE SUPPORT, AND MICROLITHOGRAPHIC PROJECTION EXPOSURE APPARATUS
摘要
申请公布号 EP1704445(A2) 申请公布日期 2006.09.27
申请号 EP20050700815 申请日期 2005.01.12
申请人 CARL ZEISS SMT AG 发明人 WEGMANN, ULRICH
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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