| 主权项 |
1.一种圆柱度量测系统,该圆柱度量测系统包含:一第一转轴;一第二转轴,系并排于该第一转轴,其中该第二转轴与该第一转轴之间系具有一平行间距;一第一轴承座,系用以支撑该第一转轴之一第一端与该第二转轴之一第一端;一第二轴承座,系用以支撑该第一转轴之一第二端与该第二转轴之一第二端;以及一基板,系用以固定该第一轴承座与该第二轴承座,该基板与水平面之间系具有一倾斜角度,藉此使得该第一转轴之该第一端与该第二转轴之该第一端系高于该第一转轴之该第二端与该第二转轴之该第二端。2.根据申请专利范围第1项之圆柱度量测系统,其中该第二轴承座系包含一凹槽承接延伸该第一转轴与该第二转轴间之一凹沟。3.根据申请专利范围第1项之圆柱度量测系统,更包含一马达藉由一传动次模组带动该第一转轴与该第二转轴转动。4.根据申请专利范围第3项之圆柱度量测系统,其中该传动次模组系包含一传动齿轮组。5.根据申请专利范围第3项之圆柱度量测系统,其中该传动次模组系包含一传动皮带组。6.根据申请专利范围第1项之圆柱度量测系统,更包含一光学量测模组用以量测在该第一转轴与该第二转轴间之一待测物体,并输出该待测物体之量测资料。7.根据申请专利范围第6项之圆柱度量测系统,更包含一电脑模组用以接收并分析该待测物体之量测资料。8.根据申请专利范围第7项之圆柱度量测系统,更包含一分料模组用以接受该电脑模组之控制以对该待测物体进行分类处理。9.根据申请专利范围第8项之圆柱度量测系统,其中该分料模组系包含:一分料通道,该分料通道之一第一端系连接该第二轴承座,该分料通道之一第二端系分叉为一第一通道与一第二通道;一档片,系安装于该分料通道、该第一与该第二通道之交接处;以及一电子阀,系接受该电脑模组之控制以改变该档片之方向。10.一种圆柱度量测方法,该圆柱度量测方法包含:将一第一转轴与一第二转轴并排,其中该第一、该第二转轴之间系保有一平行间距;分别用一第一轴承座与一第二轴承座支撑该第一、该第二转轴之一第一端与该第一、该第二转轴之一第二端;将该第一、该第二轴承座固定于一基板,其中该基板与水平面之间系具有一倾斜角度,藉此使得该第一、该第二转轴之该第一端高于该第一、该第二转轴之该第二端;启动一动力模组,并藉由一传动次模组将该动力模组所产生之动力传动给该第一、该第二转轴使其等转动;将待测物体放置于该第一、该第二转轴并排之凹沟;利用一光学量测装置量测待测物体并输出所量测资料;利用一电脑模组接收量测资料并执行一分析处理;以及根据该电脑模组分析处理之结果,控制一分料模组对待测物体进行分类处理。11.如申请专利范围第10项之圆柱度量测方法,其中该第二轴承座系具有一凹槽用以承接延伸该第一、该第二转轴并排后其等间所形成之凹沟。12.如申请专利范围第10项之圆柱度量测方法,其中该倾斜角度系可依实际需求调整其大小。13.如申请专利范围第10项之圆柱度量测方法,其中该动力模组系包含一马达。14.如申请专利范围第13项之圆柱度量测方法,其中该马达系可接受该电脑模组之控制以调整其转轴之转速。15.如申请专利范围第10项之圆柱度量测方法,其中该光学量测装置系可接受该电脑模组之控制以设定其量测取样频率以及启动其量测处理。16.如申请专利范围第10项之圆柱度量测方法,其中该分析处理更包含:接收并显示量测资料,其中量测资料系包含待测物体量测多次之复数笔外径値;以及比较该复数笔外径値与一预设基础値。17.如申请专利范围第16项之圆柱度量测方法,当该复数笔外径値其中之一与该预设基础値之比较结果系大于一误差値时,产生一瑕疵品分类控制信号。18.如申请专利范围第16项之圆柱度量测方法,当该复数笔外径値与该预设基础値之比较结果系小于或等于一误差値时,产生一良品分类控制信号。19.一种记录圆柱度量测控制程式之记录媒体,其记录之控制程式使电脑执行之程序包含:执行接收并显示量测资料之程序,其中量测资料系包含一待测物体量测多次之复数笔外径値;执行比较该复数笔外径値与一预设基础値之程序;当该复数笔外径値其中之一与该预设基础値之比较结果系大于一误差値时,执行产生一瑕疵品分类控制信号之程序;以及当该复数笔外径値与该预设基础値之比较结果系小于或等于该误差値时,执行产生一良品分类控制信号之程序。图式简单说明:第一图系本发明之一较佳实施例之概略系统方块图;第二图系主要为本发明机构模组之一较佳实施例之立体示意图;第三图系第二图之两转轴之纵向剖面图;第四图系本发明之一较佳实施方法之步骤流程图;以及第五图系第四图所述分析处理之一较佳实施方法之步骤流程图。 |
