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发明名称 Verfahren zur Überprüfung transparenter Substrate
摘要
申请公布号 DE60307522(D1) 申请公布日期 2006.09.21
申请号 DE20036007522 申请日期 2003.04.28
申请人 OPTREX CORP.;OPTREX EUROPE GMBH 发明人 OZEKI, MASAO;FERTIG, WERNER;LAUENSTEIN, CHRISTIAN
分类号 G02F1/13363;G01B11/06;G01J9/00;G01N21/41;G01N21/896;G01N21/95 主分类号 G02F1/13363
代理机构 代理人
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