发明名称 DELAY FAULT TEST CIRCUITRY AND RELATED METHOD
摘要
申请公布号 EP1702218(A1) 申请公布日期 2006.09.20
申请号 EP20040820969 申请日期 2004.12.17
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 MITTAL, AVIRAL
分类号 G01R31/3183;G01R31/30 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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