半导体测试系统

摘要

一种半导体测试系统，包括：向待测元件提供测试信号以进行测试的半导体测试装置、使半导体测试装置与待测元件电连接的评价电路板，以及传送待测元件使其与评价电路板电连接的传送装置。传送装置具有内含评价电路板的框体及传送臂，其可传送待测元件以将其推压至评价电路板，并隔着待测元件将评价电路板推压向框体内面，从而将评价电路板的待测元件压附位置的背面推压至框体上。

主权项

1.一种半导体测试系统，其特征是包括：半导体测试装置，其可向待测元件提供测试信号以进行测试；评价电路板，用以使半导体测试装置与待测元件电连接；以及传送装置，用以传送待测元件，以使评价电路板与待测元件电连接，此传送装置包括：内含评价电路板的框体；以及传送臂，用以传送待测元件以将待测元件推压至评价电路板，并隔着待测元件将评价电路板推压向前述框体的内面，从而将评价电路板的待测元件压附位置的背面推压至框体。