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发明名称 Method of testing memory module having a hub and a hub of memory module for testing the same
摘要
申请公布号 KR100624576(B1) 申请公布日期 2006.09.19
申请号 KR20050001495 申请日期 2005.01.07
申请人 发明人
分类号 G06F11/22;G01R31/28;G06F11/00;G06F12/16;G11C29/00;G11C29/08;G11C29/56 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
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