发明名称 具有增强应力状态之装置及其相关方法
摘要 本发明提供具有双重氮化层(liner)之一半导体装置,此半导体装置提供一增加的横向应力状态给至少一FET,以及提供制造此种装置之方法。本发明之第一方面提供用于一半导体装置之制造的一方法,此方法包含涂布一第一氮化矽层到此装置上及涂布相邻于此第一氮化矽层的一第二氮化矽层之步骤,其中至少其中之一的第一与第二氮化矽层于至少其中之一的第一与第二氮化矽层之下的一矽通道中导致一横向应力。
申请公布号 TW200633071 申请公布日期 2006.09.16
申请号 TW094143379 申请日期 2005.12.08
申请人 万国商业机器公司 发明人 杜惹瑟堤 齐单巴劳;李颖;瑞伊文 马力克;苏黎西 娜莱思哈;杨海宁;朱惠蓉
分类号 H01L21/335 主分类号 H01L21/335
代理机构 代理人 蔡玉玲
主权项
地址 美国