发明名称 线宽测定方法
摘要 本发明提供一种可以保持稳定的对比度状态的线宽测量方法。本发明的线宽测量方法,在由反射光及透射光同时照明测量试料的两侧,来测量半透明膜的线宽的线宽测量装置中,上述测量试料是在透明基板上形成不透明图案、并跨着透明基板与不透明图案而形成半透明膜,在测量半透明膜的线宽时,对透明基板和不透明图案分别指定调光区域后分别调光,然后测量上述半透明膜的线宽。
申请公布号 TW200632276 申请公布日期 2006.09.16
申请号 TW095100849 申请日期 2006.01.10
申请人 日立国际电器股份有限公司 发明人 野上大
分类号 G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本