用于测试记忆体之集线器及其方法

摘要

本发明揭示一种用于测试记忆体之集线器及其方法。该集线器可包括一测试区块及一透通模式区块。该测试区块可经配置以第一操作模式基于所接收之记忆体控制资讯产生伪随机图案并将该伪随机图案写入复数个记忆体装置中之至少一个。该透通模式区块可配置以第一操作模式自该测试区块接收所产生之伪随机图案，从复数个记忆体装置中之至少一者中读取该伪随机图案并将产生之伪随机图案与读出之伪随机图案相比较。该集线器亦可以伪随机资料图案在记忆体模组之至少一个记忆体装置上执行透通模式测试，该伪随机资料图案至少部分地基于自一不包含于该记忆体模组中的装置所接收之记忆体控制资讯。