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发明名称
以氮化钛作为缓冲层之AlGaInN氮化合物基板结构及其制造方法
摘要
本发明系揭露一种以氮化钛作为缓冲层之AlGaInN氮化合物基板结构及其制造方法,其系将(111)面之氮化钛沈积于(111)面的矽基板上作为缓冲层,再于其上磊晶成长(0001)面之三五族AlGaInN氮化合物元件磊晶结构。该方法,不仅可以形成高品质的三五族AlGaInN氮化合物磊晶层,制作垂直导通的三五族AlGaInN氮化合物元件,形成氮化钛反射面以提高光电元件的效能、更可避免于三五族AlGaInN磊晶过程中矽基板形成非晶质之氮化矽(SiNx),提高磊晶片的良率。
申请公布号
TW200633248
申请公布日期
2006.09.16
申请号
TW094106596
申请日期
2005.03.04
申请人
长庚大学
发明人
陈乃权;张庆安;张本秀;施权峰;连伟杰
分类号
H01L33/00
主分类号
H01L33/00
代理机构
代理人
林火泉
主权项
地址
桃园县龟山乡文化一路259号
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