发明名称 | 非挥发性记忆体的制造方法 | ||
摘要 | 一种非挥发性记忆体的制造方法,先于基底上依序形成穿隧介电层、电荷陷入层与阻挡介电层。接着,于阻挡介电层上形成垫导体层,且垫导体层中具有多个开口,开口曝露出阻挡介电层表面。之后,移除未被垫导体层覆盖的阻挡介电层、电荷陷入层、穿隧介电层与部分基底以形成多个沟渠。继之,于沟渠中填满介电层以形成多个沟渠隔离结构,再于垫导体层上形成导体层。接着,定义导体层与垫导体层以形成多个堆叠闸极结构。之后,移除未被堆叠闸极结构覆盖的阻挡介电层、电荷陷入层与穿隧介电层,然后再于各堆叠闸极结构两侧之基底中形成多个掺杂区。 | ||
申请公布号 | TW200633140 | 申请公布日期 | 2006.09.16 |
申请号 | TW094106901 | 申请日期 | 2005.03.08 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 毕嘉慧;朱建隆 |
分类号 | H01L21/8247;H01L21/76 | 主分类号 | H01L21/8247 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |