发明名称 非挥发性记忆体的制造方法
摘要 一种非挥发性记忆体的制造方法,先于基底上依序形成穿隧介电层、电荷陷入层与阻挡介电层。接着,于阻挡介电层上形成垫导体层,且垫导体层中具有多个开口,开口曝露出阻挡介电层表面。之后,移除未被垫导体层覆盖的阻挡介电层、电荷陷入层、穿隧介电层与部分基底以形成多个沟渠。继之,于沟渠中填满介电层以形成多个沟渠隔离结构,再于垫导体层上形成导体层。接着,定义导体层与垫导体层以形成多个堆叠闸极结构。之后,移除未被堆叠闸极结构覆盖的阻挡介电层、电荷陷入层与穿隧介电层,然后再于各堆叠闸极结构两侧之基底中形成多个掺杂区。
申请公布号 TW200633140 申请公布日期 2006.09.16
申请号 TW094106901 申请日期 2005.03.08
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 毕嘉慧;朱建隆
分类号 H01L21/8247;H01L21/76 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号