发明名称 曝光方法、电子元件制造方法、曝光装置以及照明光学装置
摘要 本发明之目的在于提供一种高解析度且廉价之曝光方法,其是于形成构成电子元件之微细图案时所使用之适宜的曝光方法。本发明之曝光方法包括:将两个绕射光栅中联于光路中,且将构成电子元件之晶圆等与两个绕射光栅以特定间隔进行配置,并使绕射光栅所产生的干涉条纹之明暗图案于晶圆等上曝光。根据需要,改变半导体晶圆与该绕射光栅之位置关系并进行上述曝光。
申请公布号 TW200632591 申请公布日期 2006.09.16
申请号 TW095106265 申请日期 2006.02.24
申请人 尼康股份有限公司 发明人 市原裕;中村绫子;白石直正;谷元昭一;工藤佑司
分类号 G03F7/20;H01L21/027 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本