发明名称 氮化物半导体元器件
摘要 本发明涉及一种发光元器件等的氮化物半导体元器件,是在一层或二层以上的氮化物半导体层所组成的n导电侧半导体区域与一层或二层以上的氮化物半导体层所组成的p导电侧半导体区域之间形成活性层的氮化物半导体元器件,所述p导电侧或n导电侧半导体区域的至少一层氮代物半导体层是分别由氮化物半导体所组成并且组成互异的第1层与第2层积层而成的超格子层。根据上述结构,即可降低元器件所用电流、电压,实现效率高的元器件。
申请公布号 CN1832214A 申请公布日期 2006.09.13
申请号 CN200610004485.7 申请日期 1998.01.08
申请人 日亚化学工业株式会社 发明人 长滨慎一;妹尾雅之;中村修二
分类号 H01L33/00(2006.01);H01L31/0304(2006.01);H01S5/32(2006.01);H01S5/323(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 沈昭坤
主权项 1.一种氮化物半导体元器件,是在一层或二层以上的氮化物半导体层所组成的P导电侧半导体区域之间具有氮化物半导体所组成活性层,其特征在于,所述n导电侧半导体区域的至少一层氮化物半导体层是由组成上互异、n型杂质浓度上互异的、2元混晶或3元混晶的氮化物半导体的第一及第二氮化物半导体层所交替积层而成的n侧超格子层。
地址 日本德岛县阿南市