发明名称 外延生长法
摘要 一种外延生长方法,是采用分子束外延生长法形成具有III-V族系化合物半导体的异质结的半导体薄膜的外延生长方法,具备下述工序:照射至少一种以上的III族元素的分子束和第1V族元素的分子束,形成第1化合物半导体层的第1工序;停止上述III族元素的分子束和上述第1V族元素的分子束的照射,中断生长直到上述第1V族元素的供给量变为上述第1工序中的供给量的1/10以下的第2工序;和照射至少一种以上的III族元素的分子束和第2V族元素的分子束,在上述第1化合物半导体层上形成与上述第1化合物半导体不同的第2化合物半导体层的第3工序。
申请公布号 CN1833311A 申请公布日期 2006.09.13
申请号 CN200480020384.8 申请日期 2004.04.28
申请人 株式会社日矿材料 发明人 高草木操;金井进
分类号 H01L21/203(2006.01) 主分类号 H01L21/203(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 孙秀武;邹雪梅
主权项 1.一种外延生长方法,是采用分子束外延生长法形成具有III-V族系化合物半导体的异质结的半导体薄膜的外延生长方法,其特征在于,具备:照射至少一种以上的III族元素的分子束和第1V族元素的分子束,形成第1化合物半导体层的第1工序;停止上述III族元素的分子束和上述第1V族元素的分子束的照射,中断生长直到上述第1V族元素的供给量变为上述第1工序中的供给量的1/10以下的第2工序;和照射至少一种以上的III族元素的分子束和第2V族元素的分子束,在上述第1化合物半导体层上形成与上述第1化合物半导体不同的第2化合物半导体层的第3工序。
地址 日本东京都