发明名称 水基流延法制备高热导率氮化铝陶瓷基片的方法
摘要 本发明涉及一种水基流延法制备集成电路氮化铝陶瓷基片的方法。主要技术特征是把经过磷酸处理的氮化铝粉末、烧结助剂和有机添加剂按照以下配方制备成浆料:氮化铝粉末40~60wt%;氧化钇0.5~2wt%;氧化镝1~3wt%;水10~20wt%;聚丙烯酸酯乳浊液0.2~1wt%;聚乙烯醇乳浊液20~40wt%;甘油2~5wt%。将配制好的氮化铝浆料流延成型制备成素坯膜,素坯膜经排胶、烧结制备成氮化铝基片。该方法制备基片成本低,无污染,所得的基片热导率高,表面平整,适合大规模工业生产。
申请公布号 CN1274638C 申请公布日期 2006.09.13
申请号 CN200410016144.2 申请日期 2004.02.05
申请人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明人 雒晓军;张宝林;李文兰;庄汉锐
分类号 C04B35/581(2006.01);C04B35/622(2006.01);C04B35/64(2006.01) 主分类号 C04B35/581(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1、水基流延法制备氮化铝陶瓷基片的方法,包括以下步骤:(1)将经过磷酸处理的氮化铝粉末、烧结助剂和有机添加剂按照以下配方制备成浆料:经过磷酸处理的氮化铝粉末40~60wt%;氧化钇0.5~2wt%;氧化镝1~3wt%;水10~20wt%;聚丙烯酸酯乳浊液0.2~1wt%,浓度是30~60wt%;聚乙烯醇乳浊液20~40wt%,浓度是5~12wt%;甘油2~5wt%;(2)制备好的浆料流延成型、干燥、排胶、烧结、冷却后制得氮化铝基片。
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