发明名称 All digital built-in self-test circuit for phase-locked loops
摘要
申请公布号 EP1148340(B1) 申请公布日期 2006.09.13
申请号 EP20010201445 申请日期 2001.04.20
申请人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 发明人 VARIYAM, PRAMODCHANDRAN N.;BALACHANDRAN, HARI
分类号 G01R29/02;G01R31/3187;G01R31/28;G01R31/30;G01R31/317;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R29/02
代理机构 代理人
主权项
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