发明名称 IMPRINT LITHOGRAPHY TEMPLATES HAVING ALIGNMENT MARKS
摘要 <p>One embodiment of the present invention is an imprint template for imprint lithography that comprises alignment marks embedded in bulk material of the imprint template.</p>
申请公布号 KR20060096998(A) 申请公布日期 2006.09.13
申请号 KR20067005535 申请日期 2004.09.16
申请人 BOARD OF REGENTS , THE UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM 发明人 BAILEY TODD C.;JOHNSON STEPHEN C.;COLBURN MATTHEW E.;CHOI BYUNG J.;SMITH BRITAIN J.;EKERDT JOHN G.;WILLSON CARLTON G.;SREENIVASAN SIDLGATA V.
分类号 G03F7/00;G03F;G03F7/20;G03F9/00;H01L21/027 主分类号 G03F7/00
代理机构 代理人
主权项
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