| 主权项 |
1.一种自动双向光损失量测系统,用以量测一待测物之双向光损失,主要包括有:第一次系统,与待测物一端相连接,具有相互连接之第一光量测装置及发出第一光讯号之第一光源;以及第二次系统,与待测物另一端相连接,具有相互连接之第二光量测装置及发出第二光讯号之第二光源;其中使前述第一光讯号从第一次系统沿第一量测方向通过待测物后输入至第二次系统内,以及使前述第二光讯号从第二次系统中沿第二量测方向通过待测物后输入至第一次系统内,即可藉由至少其中一光量测装置得知该待测物在第一及第二量测方向的光损失。2.如申请专利范围第1项所述之自动双向光损失量测系统,其中该第一次系统进一步具有一第一防干扰装置,以及第二次系统进一步具有一第二防干扰装置。3.如申请专利范围第2项所述之自动双向光损失量测系统,其中该第一防干扰装置使第二光讯号在第一次系统中传输至第一光量测装置,以及第二防干扰装置使第一光讯号在第二次系统中传输至第二光量测装置。4.如申请专利范围第3项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一及第二防干扰装置皆为一种光隔绝器。5.如申请专利范围第1项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一及第二光源皆为一种雷射二极体。6.如申请专利范围第1项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一及第二光讯号之波长相同。7.如申请专利范围第3项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一光量测装置是一第一光功率计,以及第二光量测装置是一第二光功率计。8.如申请专利范围第7项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一光量测装置进一步包括一第一处理单元,系与第一光源连接,以向第一光源发出控制指令。9.如申请专利范围第8项所述之自动双向光损失量测系统,其中所述控制指令包括自动双向量测光损失之资讯。10.如申请专利范围第8项所述之自动双向光损失量测系统,其中所述控制指令包括计算光损失之资讯。11.如申请专利范围第8项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一光量测装置进一步包括:一第一光感测器,系连接第一光源和第一处理单元,以向第一处理单元提供该第一光感测器获取的第一光讯号之初始光功率之资讯。12.如申请专利范围第11项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一光量测装置进一步包括:一第二光感测器,使第一处理单元藉由该第二光感测器获取第二光讯号通过待测物后之剩余光功率。13.如申请专利范围第12项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一及第二光感测器皆是一种光电二极体。14.如申请专利范围第12项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一次系统进一步包括:一第一光耦合器,其中一输入/输出端与待测物连接,而另一输入/输出端分别与第一防干扰装置、第二光感测器连接。15.如申请专利范围第7项所述之自动双向光损失量测系统,其中第二光量测装置进一步包括:一第二处理单元,系与第二光源连接,并依据第一光讯号之资讯向第二光源发出控制指令并且调整第二光讯号之波长。16.如申请专利范围第15项所述之自动双向光损失量测系统,其中第二光量测装置进一步包括:一第三光感测器,系连接第二光源和第二处理单元,以使第二处理单元藉由该第三光感测器获取第二光讯号之初始光功率。17.如申请专利范围第16项所述之自动双向光损失量测系统,其中第二光量测装置进一步包括:一第四光感测器,使第二处理单元藉由该第四光感测器获取第一光讯号通过待测物后之剩余光功率。18.如申请专利范围第17项所述之自动双向光损失量测系统,其中第三及第四光感测器皆是一种光电二极体。19.如申请专利范围第17项所述之自动双向光损失量测系统,其中第二次系统进一步包括:一第二光耦合器,其中一输入/输出端与待测物连接,而另一输入/输出端则与第二防干扰装置、第四光感测器连接。20.如申请专利范围第1项所述之自动双向光损失量测系统,其中第一次系统之结构与第二次系统相同。21.如申请专利范围第1项所述之自动双向光损失量测系统,其中前述第一及第二量测装置之间互传光损失之量测资讯。22.一种自动双向光损失量测方法,用以量测待测物之双向光损失,主要包括有:使第一光源发出第一光讯号,藉由一第一光量测装置量测第一光讯号之初始强度;第一光讯号沿一第一量测方向通过待测物,使一第二光量测装置获取第一光讯号通过待测物后之剩余强度;使第二光源发出第二光讯号,藉由第二光量测装置量测第二光讯号之初始强度;第二光讯号沿第二量测方向通过待测物后,使第一光量测装置获取该第二光讯号通过待测物后之剩余强度;使第一及第二光量测装置之间进行资讯传送以获得前述第一光讯号之初始强度、第二光讯号通过待测物之剩余强度、第二光讯号之初始强度和第一光讯号通过待测物之剩余强度;依据前述各强度,计算出沿第一及第二量测方向的待测物之双向光损失。23.如申请专利范围第22项所述之自动双向光损失量测方法,进一步包括:调整第一及第二光源的输出模式为稳定输出模式。24.如申请专利范围第23项所述之自动双向光损失量测方法,进一步包括:使第一及第二光量测装置多次重复量测出第一及第二光讯号之初始光强度、第一及第二光讯号通过待测物之剩余光强度,从而得出同一波长时待测物之双向平均光损失。25.如申请专利范围第22项所述之自动双向光损失量测方法,进一步包括:调整每一光源发出具不同波长的光讯号,进而量测出待测物在不同波长情况下的双向平均光损失。26.如申请专利范围第22项所述之自动双向光损失量测方法,进一步包括:使第二光量测装置依据第一光讯号之资讯而控制第二光源发出第二光讯号,使第二光讯号之波长等于第一光讯号之波长。27.如申请专利范围第26项所述之自动双向光损失量测方法,进一步包括:使第二光量测装置将所测得的第二光讯号之初始强度及第一光讯号通过待测物之剩余强度之资讯传输至第一光量测装置,使第一光量测装置计算得出待测物之双向光损失。28.如申请专利范围第22项所述之自动双向光损失量测方法,进一步包括:利用一第一及第二防干扰装置分别防止通过待测物后之第二及第一光讯号干扰第一、第二光源,其中第一及第二防干扰装置皆是一种光隔绝器。29.如申请专利范围第22项所述之自动双向光损失量测方法,其中第一、第二光量测装置分别是光功率计,所测得的第一及第二光讯号之初始强度、第一及第二光讯号通过待测物之剩余强度均是光功率値。30.如申请专利范围第29项所述之自动双向光损失量测方法,其中第一光量测装置进一步包括:一第一处理单元用于向第一光源发出控制指令。31.如申请专利范围第30项所述之自动双向光损失量测方法,其中第一光量测装置进一步包括:一第一光感测器,系连接第一光源和第一处理单元,以提供第一处理单元有关第一光讯号之初始光功率之资讯。32.如申请专利范围第31项所述之自动双向光损失量测方法,其中第一光量测装置进一步包括:一第二光感测器,系提供第一处理单元获取有关第二光讯号通过待测物后之剩余光功率的资讯。33.如申请专利范围第32项所述之自动双向光损失量测方法,其中前述第一及第二光感测器均为一种光电二极体。34.如申请专利范围第32项所述之自动双向光损失量测方法,其中进一步包括:利用一第一光耦合器之一输入/输出端与待测物连接,而另一输入/输出端与第一防干扰装置、第二光感测器连接。35.如申请专利范围第29项所述之自动双向光损失量测方法,其中第二光量测装置进一步包括:一第二处理单元,系与第二光源向连接,并依据接收到的第一光讯号之资讯向第二光源发出控制指令以调整第二光讯号之波长。36.如申请专利范围第35项所述之自动双向光损失量测方法,其中第二光量测装置进一步包括:一第三光感测器,系连接第二光源和第二处理单元,并提供第二处理单元有关第二光讯号之初始光功率之资讯。37.如申请专利范围第36项所述之自动双向光损失量测方法,其中第二光量测装置进一步包括:一第四光感测器,系供第二处理单元获取该第一光讯号通过待测物后之剩余光功率之资讯。38.如申请专利范围第37项所述之自动双向光损失量测方法,其中第三及第四光感测器皆为一种光电二极体。39.如申请专利范围第37项所述之自动双向光损失量测方法,其中进一步包括:利用一第二光耦合器之一输入/输出端与待测物连接,而另一输入/输出端则与第二防干扰装置、第四光感测器连接。第一图系本发明自动双向光损失量测系统一较佳实施例之架构示意图。 |
